在本篇中以电压检测器的检测电压、释放电压的磁滞宽度小的状态为例，说明将发生什么现象。
如果磁滞宽度小
设想在电压检测器监控的电池电压电路中，为纽扣电池等内部阻抗大的电池连接了MCU。 在这种情况下，有反复发生电压检测器的检测⇔释放状态的现象。
在此分1~6的时间序列说明，实际发生这种状态的结构。
1. 由于电池电流增加，电池电流与电池的内部阻抗使电池电压下降。
2. 由于电池电压下降，电压检测器成为检测状态。达到检测状态之后，向MCU发送复位信号使MCU停止动作。
3. 由于MCU停止动作，负载电流减少。
4. 由于负载电流减少，解消了电池电流和电池内部阻抗产生的电压下降，使得电池电压升高。
5. 由于电池电压升高，电压检测器成释放状态，使MCU开始动作。
6. MCU的负载电流（电池电流）增加。
* 1~6反复动作，也就反复了电压检测器的检测⇔释放状态。
为了防止电压检测器的检测⇔释放
反复出现电压检测器的检测⇔释放状态的现象，其原因在于负载电流使电池电压发生变动。如果电池电压的变动幅度比电压检测器磁滞宽度大，将反复出现电压检测器的检测⇔释放状态。
在此列举了因电池的内部阻抗使得电压变动的事例，保险丝、过滤电路的电阻成分，也发生电压检测器监控线路的电压变动，成为反复出现电压检测器的检测⇔释放状态的原因。
作为一般的解决措施，列举如下。
・设定比电池电压（监控线路）的电压变动幅度更大的磁滞宽度。
・更改为内部阻抗小的电池；更改为DCR小的保险丝和过滤器。
除电压检测器以外
在此介绍了电压检测器的事例，电压检测器以外的其他元件也发生同样的现象。
还可列举下述磁滞宽度小、持续检测和释放状态的事例：
(a) 搭载了UVLO功能的电压调整器及DC/DC转换器，当UVLO检测电压与释放电压的磁滞宽度小时
(b) 搭载了CE/EN功能的电压调整器及DC/DC转换器，当CE/EN “L”电压与“H”电压的磁滞宽度小时
除上述以外，由于IC或电路的过电流保护、过热保护、低电压保护等动作，也反复发生异常状态与启动和稳定状态的事例。
不只是考察单独的IC或元件，掌握整个电路中IC和元件的动作，对于设计电路是非常重要的。